[发明专利]一种电源可用性检测方法无效

专利信息
申请号: 200810014411.0 申请日: 2008-02-28
公开(公告)号: CN101408593A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 姚萃南;滕学军;吴明生 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40;G06F11/22
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 代理人: 姜 明
地址: 250014山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种电源可用性检测方法,该方法通过安规测试、压力测试、Bench测试、点温升测试、平台兼容性测试、老化测试抗震测试和电磁兼容测试等系列测试,不仅能衡量电源本身的性能指标,而且能有效检测和控制电源的质量,还能评估电源与服务器或PC系统的兼容性。它是对电源“可用性”判别的一个综合的、科学的、全面的、实用的、可靠的检测方法。是提高电源系统的整体性能无疑是提高服务器整机系统可用性、可靠性的关键之一,不仅实现键盘、鼠标、系统时钟、软件开关机以及提供服务器网络远程唤醒必备电源,更是实现诸如多路处理器、多个高速大容量硬盘以及高速I/O外设的负载需求等整机扩展性也需要足够的电力支持。
搜索关键词: 一种 电源 可用性 检测 方法
【主权项】:
1、一种电源可用性检测方法,其特征在于,测试流程步骤如下:A.安规测试:分为高压,泄露和接地三项,检测的标准为耐压1500V/最大10mA,泄露电流242V/最大350uA,接地电阻25A/最大0.1欧,不超过该标准即为合格;B.压力测试:该指标主要考量电源内部的每个元器件的电压和电流在50度的环境温度下,满载条件下是否超出设计规格以及找出相对短板的裕量是多少,从而有效的评估出电容、IC、二极管、电阻、MOS管部件的平均无故障时间MTBF,通过该指标的测试充分掌握电源在长时间稳定工作条件下的设计裕量;C.Bench测试:通过该项目测试有效评估电源设计的性能指标是否合格作为一个重要的依据,该项测试与上一项的关联是,通过上一项测试检测最短板的器件裕量,针对最短板的器件进行加压加严测试,检查是否符合产品的性能标准;D.点温升测试:对系统在加压高温的极限条件下对电源内部的元器件进行温度测试,以验证其配合系统的稳定性;E.平台兼容性测试:配合整机进行测试,验证和系统的时序配合的匹配性以及电压拉偏的测试,模拟用户处电网电压过高过低,突然变化的情况发生和整机的压力测试;F.老化测试:当系统在高温45度±5%工作时,电源必须满足该系统在任何加压条件下的瞬态电流响应的要求同时保证各路输出电压的稳定;G.抗震测试:在高温老化之后,一旦工艺上有虚焊情况的发生,通过敲击方式震动电源,有效避免上述情况的发生,具体操作在10cm处自由落体,然后橡胶锤六面击打测试;H.电磁兼容测试:国家强制执行的3C认证,包括三项内容,谐波、传导和辐射,而整机系统的前两项指标直接由电源决定,对于电源选型来说属于必测项目,而最后一项与系统中的主板、显卡、电源高频部件密切相关,因此该项主要与系统配合时作测试。
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