[发明专利]旋转零件的位置和变化的探测方法及设备有效
申请号: | 200780101311.5 | 申请日: | 2007-09-17 |
公开(公告)号: | CN101842188A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 古兹曼·斯莱特门;克里斯蒂安·阿斯克兰;埃斯彭·施滕贝格;托尔施泰因·欧沙·格雷格;让-菲利普·贝祖赫特 | 申请(专利权)人: | 科诺普提卡股份有限公司 |
主分类号: | B23Q17/09 | 分类号: | B23Q17/09;B23Q17/24;G01B21/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明 |
地址: | 挪威*** | 国省代码: | 挪威;NO |
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摘要: | 本发明涉及一种用于找到至少一个旋转零件的位置关系和几何形状变化的设备和方法,当所述旋转零件处于旋转模式时,其附接于机器或形成机器零件,该零件的所述变化由其生产和使用状态导致,以在所述旋转零件上确定任何具有污染物的位置,并且之后消除或补偿所述旋转零件上存在的这种污染物的影响。 | ||
搜索关键词: | 旋转 零件 位置 变化 探测 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种被构造为找到至少一个旋转零件的位置关系和几何形状变化的设备,当所述旋转零件处于旋转模式时,所述旋转零件附接于机器或形成机器零件,所述零件的所述变化由其生产和使用的状态导致,以在所述旋转零件上确定任何具有污染物的位置、并且以便之后消除或补偿所述旋转零件上存在的这种污染物的影响,所述设备包括:-检测区域(78),所述旋转零件(22)位于所述检测区域中;-至少一对面向所述检测区域(78)的光学检测器(24)和照明器(42);-可操作地连接至所述光学检测器(24)的第一定时器(38);-可操作地连接至所述照明器(42)的第二定时器(40);-零件位置探测器(44),具有用于定义所述照明器(42)的光调制特性和发光控制(54)的装置;-所述照明器(42)被构造为解析所述控制(54),并且从其产生所述旋转零件(22)的调制照明;-所述零件位置探测器(44)具有用于产生、接收和储存至少一个与相应的旋转参考件相关的预制基准图案模型(36)或基准图案图像模型(52)以由此建立该参考件的至少一个基准图案模型的装置;-公共支撑部(16),具有附接于其的所述至少一对照明器(42)和光学检测器(24);-所述光学检测器(24)被构造为建立被照亮的旋转零件的至少一个基准图案(34)的一图像组(58);-所述零件位置探测器(44)被构造为:-用数学方法特征化所述检测区域(78)与所述检测器(24)之间的光学成像,以便能够通过基准图案图像模型(52)与基准图案模型(36)之间的映射位置从基准图案图像模型(52)建立基准图案模型(36),或者反之亦然,-从所述光学检测器(24)接收所述被照亮的旋转零件(22)的至少一个基准图案(34)的图像组(58),-建立与所述图像组(58)相关的基准图案图像模型(52),-应用所述旋转零件(22)、与所述机器相关的其它零件、所述支撑部(16)、所述照明器(42)和所述检测器(24)的几何形状位置相互关系(70),并且-定义并应用与所述旋转零件(22)、所述机器及其零件、所述支撑部(16)、所述照明器(42)和所述检测器(24)相关的变化约束(68),并且-接收并解析定义所述旋转零件(22)的旋转状态的请求(50)和关于待应用的基准图案模型(36)或基准图案图像模型(52)的信息,其中,所述零件位置探测器(44)被进一步构造为:-消除与所述基准图案图像(58)相关的污染物(62)的影响,以建立被污染物(62)较少影响的基准图案图像代表,-通过根据所述旋转零件(22)的变化约束(68)修改至少一个所述几何形状位置相互关系(70),来确定所述旋转零件的所述基准图案图像代表与所述基准图案图像模型(52)之间的差异和位移,-确定将相对于基准图案图像模型(52)产生基准图案图像差异和位移的机器零件变化(72),并且-使得机器或机器操作员考虑所述机器零件变化(72),-使得所选择的机器零件影响所需变化。
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