[发明专利]能量分辨探测系统和成像系统无效

专利信息
申请号: 200780047371.3 申请日: 2007-12-17
公开(公告)号: CN101563628A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: C·博伊默;G·蔡特勒;C·赫尔曼;R·斯特德曼布克;K·J·恩格尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及用于探测辐射(4)的能量分辨探测系统。所述能量分辨探测系统包括:第一层(21),其用于吸收所述辐射(4)的一部分的;以及辐射量子计数单元,其包括用于对所述辐射(4)的辐射量子进行计数的第二层(26)。读出单元(29)与所述辐射量子计数单元相耦合以便读出所述辐射量子计数单元。对所述第一层(21)和所述第二层(26)进行布置,从而使得入射在所述探测系统上并且到达所述第二层(26)的所述辐射(4)通过所述第一层(21)。
搜索关键词: 能量 分辨 探测 系统 成像
【主权项】:
1、一种用于探测辐射(4)的能量分辨探测系统,所述探测系统包括:-第一层(21;421),其用于吸收所述辐射(4)的一部分,-辐射量子计数单元(26;426;437),其包括用于对所述辐射(4)的辐射量子进行计数的第二层(26;426),-读出单元(29;429),其与所述辐射量子计数单元(26;426;437)相耦合以便读出所述辐射量子计数单元(26;426;437),其中,对所述第一层(21;421)以及所述第二层(26;426)进行布置,从而使得入射在所述探测系统上并到达所述第二层(26;426)的所述辐射(4)已经通过所述第一层(21;421)。
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