[发明专利]用于检查印制电路结构的传感器、装置和方法以及传感器的加工方法无效

专利信息
申请号: 200780015665.8 申请日: 2007-11-13
公开(公告)号: CN101432632A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: H·克劳斯曼;K·克拉格勒 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R31/312 分类号: G01R31/312;G09G3/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曹 若;梁 冰
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于检查在平面载体(130)上构成的印制电路结构(131)的传感器。该传感器(250)包括基底(251),它这样机械地形成结构,使它具有凸起的上部位(260)和凹下的下部位(280),其中平面的上部位(260)与凹下的下部位(280)通过优选台阶形的过渡部位(27)相互连接。该传感器(250)还包括多个在平面的上部位(260)上构成的传感器电极(261)和多个用于电接通多个传感器电极(261)的连接导线(471)。在此对每个传感器电极(261)都附设连接导线(471),它从各传感器电极(261)一直延伸到凹下的下部位(280)。本发明还涉及用于检查印制电路结构(131)的装置以及方法。此外给出一种用于上述传感器的加工方法。
搜索关键词: 用于 检查 印制电路 结构 传感器 装置 方法 以及 加工
【主权项】:
1. 用于检查在平面载体(130)上构成的印制电路结构(131)的传感器,尤其是用于无接触地检查在平面显示屏基底(130)上构成的印制电路矩阵(131),所述传感器(150,250,350,450,550,650)具有·基底(251,451,551,651),它这样机械地形成结构,使它具有凸起的上部位(260,360,460,560,660)和凹下的下部位(280,380,480,580,680),其中平面的上部位(260,360,460,560,660)与凹下的下部位(280,380,480,580,680)通过过渡部位(270,370,470,570,670)相互连接,·多个传感器电极(261,461,561),它们在平面的上部位(260,360,460,560,660)上构成,·多个连接导线(471)用于使多个传感器电极(261,461,561)电接通,其中对每个传感器电极(261,461,561)都附设连接导线(471),上述连接导线从各个传感器电极(261,461,561)一直延伸到凹下的下部位(280,380,480,580,680)。
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