[发明专利]用于光学测量谷物和类似农作物的粒子的设备和方法

摘要

一种用于光学测量粒子以分析所述粒子的质量的设备(200)，该设备包括进料器(102)、光源(105)、探测器(108)和分析仪(111)，进料器(102)被设置成沿输送方向(107)供给至少一个粒子(101b)，光源(105)被设置成沿着一条线照射所述粒子(101b)，探测器(108)被设置成探测来自所述粒子表面的反射光(109)，分析仪(111)被设置成当输送所述粒子时，分析所探测到的反射光以便确定粒子沿着所述线的高度轮廓以及基于多个所确定的高度轮廓来确定所述粒子上的三维表面形貌信息。设备(200)还包括用于产生二维图像的装置(220)，且分析仪(111)被设置成基于同一粒子的三维表面信息和二维图像来确定所述粒子的质量。

主权项

1. 一种用于光学分析农作物的粒子(101)的质量的设备(200)，其包括：进料器(102)，其被设置成将包括至少一个粒子(101)的粒子试样(103)供给到用于光学测量的位置(104)，光学系统(105、108；205、208)，其适于照射处在用于光学测量的所述位置(104)处的所述粒子试样(103)的单个粒子(101)以及适于在照射光与所照射的单个粒子(101)的表面相互作用之后探测照射光，以及分析仪(111)，其适于接收所探测到的照射光并对其进行处理，以确定所述粒子试样(103)的质量，所述设备(200)的特征在于：所述分析仪(111)适于处理所探测到的照射光以生成所述粒子试样(103)的单个粒子(101)的三维表面信息，以及分析所述三维表面信息来确定质量。