[发明专利]表面污点检测系统及其检测方法无效

专利信息
申请号: 200710201620.1 申请日: 2007-09-07
公开(公告)号: CN101382502A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: 赖柏元;简义本;林信力;林光伟 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种表面污点检测系统,其包括至少一个影像获取装置,用于获取待测物表面信息的影像;至少一个光源装置,用于照亮所述待测物的表面;一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置,用于对影像获取装置所获取的影像进行处理,以检测所述待测物的表面是否符合预定的标准值,并对亮度值大于平均值的像素点进行标注。上述的表面污点检测系统在影像获取装置及信号处理装置配合作用下,能够准确地判断污点存在的位置,不仅加快了检测速度,而且避免了人工目检存在的主观因素以及其存在的漏检率,进而提高了检测合格率。本发明还涉及上述表面污点检测系统的污点检测方法。
搜索关键词: 表面 污点 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
【权利要求1】一种表面污点检测系统,其特征在于,该表面污点检测系统包括:至少一个影像获取装置,用于获取待测物表面的影像,并从该影像中取得各像素点的亮度值;至少一个光源装置,用于照亮所述待测物的表面;一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置,用于对所得的各像素点的亮度值求和,求各像素点的亮度值的平均值,并将各像素点的亮度值与该所求的平均值比较以检测所述待测物的表面的各像素点的亮度值是否符合预定的标准值,并对亮度值大于平均值的像素点进行标注。
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