[发明专利]表面污点检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种表面污点检测系统，其特征在于，该表面污点检测系统包括

至少一个影像获取装置，用于获取待测物表面的影像，并从该影像中取得各像素点的亮度值；

至少一个光源装置，用于照亮所述待测物的表面；

一个与影像获取装置电气连接的信号处理装置，用于对所得的各像素点的亮度值求和，求各像素点的亮度值的平均值，并将各像素点的亮度值与该所求的平均值比较以检测所述待测物的表面的各像素点的亮度值是否符合预定的标准值，并对亮度值大于平均值的像素点进行标注。

2.如权利要求1所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述影像获取装置为一个相机模组。

3.如权利要求1所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述影像获取装置的数量为两个，该两个影像获取装置所能从待测物获取的总面积与待测物表面的面积相当。

4.如权利要求1所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述表面污点检测系统还包括一个用于放置所述待测物的移动平台，用于带动所述待测物移动。

5.如权利要求4所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述移动平台作二维移动。

6.如权利要求1所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述光源装置包括一个光源和一个与该光源电气连接的光源控制器，所述光源控制器用于控制光源的亮度。

7.如权利要求6所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述光源为氦氖激光管。

8.如权利要求1所述的表面污点检测系统，其特征在于：所述表面污点检测系统还包括一个主控系统，该主控系统分别与信号处理装置及光源装置电气连接，用于配合并控制所述信号处理装置及光源装置的工作。

9.一种表面污点检测方法，其包括下列步骤：

开启光源装置，使其照亮待测物表面；

由影像获取装置从待测物表面获取一影像，并从该影像中取得各像素点的亮度值；

由信号处理装置对所得的各像素点的亮度值求和，并求其平均值；

由信号处理装置将所有像素点的亮度值与该平均值比较；

若一像素点的亮度值大于该平均值，则该像素点为污点，并将该污点标注。

10.如权利要求9所述的表面污点检测方法，其特征在于：所述表面污点检测方法在获得待测物的影像后还包括对所获取的影像信号进行噪声过滤的步骤。