[发明专利]一种合金钢样品夹杂含量快速测定的分析方法有效

专利信息
申请号: 200710201345.3 申请日: 2007-08-13
公开(公告)号: CN101105456A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 徐本平;石瑞成;钟华 申请(专利权)人: 攀钢集团攀枝花钢铁研究院
主分类号: G01N21/67 分类号: G01N21/67
代理公司: 成都虹桥专利事务所 代理人: 武森涛
地址: 617000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种合金钢样品夹杂含量快速测定的分析方法,属于金属材料检测技术领域。将待测样品MxNy在惰性气体气氛中进行放电,得到M元素和N元素的单火花强度分布谱图,计算各元素与铁元素的强度比,确定其门槛值,同时高于M元素门槛值和N元素门槛值的数据进入数据处理系统,以同时高于M元素门槛值和N元素门槛值的光谱条数除以总光谱条数,即得MxNy夹杂物含量。利用本发明方法可以快速、准确测定合金中氧夹杂物、碳夹杂物、氮夹杂物或硫夹杂物含量,还可以直接测定某种元素夹杂物总含量,适应钢铁精练过程中质量控制的需要。
搜索关键词: 一种 合金钢 样品 夹杂 含量 快速 测定 分析 方法
【主权项】:
1.一种合金钢样品夹杂化合物MxNy含量快速测定的光谱分析方法,其特征在于:它是用M元素或N元素光谱异常条数与总光谱条数的比值来计算M元素或N元素夹杂物含量;它包括如下步骤:a、采集单火花光谱数据:把样品放在激发台上,在惰性气体气氛中进行放电,利用单火花光谱分析系统将一定积分时间内,多个元素的单次放电的信号强度值都实时地记录下来,利用相应的软件将火花光谱分解开来,得到元素的单火花强度分布谱图;b、计算比强度;c、分别设定M元素、N元素的门槛值,门槛值公式:Im=Io+Kσ,Io为平均比强度,K=4,σ为比强度标准偏差;d、以高于门槛值的光谱条数除以总光谱条数计算夹杂物含量:以高于M元素门槛值的光谱条数除以总光谱条数,计算M元素夹杂化合物总含量;以高于N元素门槛值的光谱条数除以总光谱条数,计算N元素夹杂化合物总含量;以同时高于M元素门槛值和N元素门槛值的光谱条数除以总光谱条数,计算MxNy夹杂物含量。
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