[发明专利]微流体温度场测量装置及用该装置测微流体温度场的方法无效
申请号: | 200710199222.0 | 申请日: | 2007-12-14 |
公开(公告)号: | CN101183027A | 公开(公告)日: | 2008-05-21 |
发明(设计)人: | 黎永前;张维;吕湘连;唐虹 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G01J5/08 | 分类号: | G01J5/08;G01J5/06 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 | 代理人: | 黄毅新 |
地址: | 710072陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种微流体温度场测量装置,包括光源,其特点是还包括起偏器、聚光镜、半透半反射棱镜、偏振分光棱镜、物镜、四分之一波片、检偏器和CCD,光源射出的光束通过起偏器变成偏振光,再经过聚光镜会聚成平行光,该光线经过半透半反射棱镜,反射至偏振分光棱镜后被剪切成两束光;这两束光通过物镜射到微流体芯片上,再按照原方向反射,通过物镜、偏振分光棱镜、半透半反射棱镜、四分之一波片、检偏器,最终成像在CCD靶面上。由于采用共光路光学系统,消除了外界因素对光路的干扰,减少了测量误差。本发明方法采用相移干涉测量方法,使得温度测量误差由现有技术的3℃提高到0.1℃;空间分辨率由现有技术的毫米级提高到微米级。 | ||
搜索关键词: | 流体 温度场 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种微流体温度场测量装置,包括光源,其特征在于:还包括起偏器、聚光镜、半透半反射棱镜、偏振分光棱镜、物镜、四分之一波片、检偏器、CCD,光源射出的光束通过起偏器起偏,变成偏振光,再经过聚光镜,会聚成平行光同时消除光线中的杂散光;该光线经过半透半反射棱镜,反射至偏振分光棱镜,偏振分光棱镜将该光束剪切成振动方向正交的两束光;这两束光通过物镜,汇聚成两束平行光,该平行光分别射到微流体芯片的不同位置,再按照原方向反射出去,通过物镜、偏振分光棱镜合成为一束光线;该光线穿过半透半反射棱镜、四分之一波片、检偏器,最终成像在CCD靶面上。
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