[发明专利]发光二极管温度测试仪无效
| 申请号： | 200710199141.0 | 申请日： | 2007-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN101236110A | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | 张兴华 | 申请（专利权）人： | 张兴华 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 443113湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种新型的发光二极管温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表测试的误差。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身的温度特性：当用1mA的电流点发光二极管芯片时，温度每升高1℃时，发光二极管芯片的电压就会下降2.2mV，本发明利用1mA的电流测试发光二极管的电压，计算出发光二极管的实际温度。本发明也同样适用于普通二极管的温度测试。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 温度 测试仪 | ||
【主权项】：
1.一种发光二极管温度测试仪，其特征在于所述的发光二极管温度测试仪是用电压检测3，高精度峰值电压表4，测试出发光二极管的电压通过比较校准5和室温检测6校准后，然后转换计算出发光二极管温度。
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