[发明专利]缺陷检测系统和方法无效
| 申请号： | 200710182377.3 | 申请日： | 2007-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN101165799A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 朱清和;江俊颖 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种缺陷检测系统和方法，用于可复写光盘。在该系统中，一解调器读取一光盘上多个扇区的内容与内校验码(PI)。一扇区检测器解码所述的这些内校验码PI以获得所述的这些扇区的缺陷信息。一存储器储存由所述的这些扇区的内容所组成的一容错数据区块(ECC block)，并储存所述的这些扇区的缺陷信息，其中该容错数据区块包含一外校验码(PO)。一容错数据区块检测器解码该外校验码，并根据所述的这些扇区的缺陷信息和该外校验码来判断该容错数据区块是否有缺陷。一处理器控制该内校验码和外校验码的解码程序。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测系统，用于可复写光盘，其特征在于，所述的系统包含：一解调器，读取一光盘上复数个扇区的内容与内校验码；一扇区检测器，耦接所述的解调器，解码所述的这些内校验码PI以获得所述的这些扇区的缺陷信息；一存储器，耦接所述的扇区检测器，储存由所述的这些扇区的内容所组成的一容错数据区块，并储存所述的这些扇区的缺陷信息，其中所述的容错数据区块包含一外校验码；一容错数据区块检测器，耦接所述的存储器，解码所述的外校验码，并根据所述的这些扇区的缺陷信息和所述的外校验码来判断所述的容错数据区块是否有缺陷；以及一处理器，耦接所述的扇区检测器和容错数据区块检测器，用以控制所述的内校验码和所述的这些外校验码的解码程序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联发科技股份有限公司，未经联发科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710182377.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：带双轮的导向滚轮
- 下一篇：滑动构件用多孔质陶瓷及其制造方法以及机械密封环
