[发明专利]应用于连续性侧向长晶技术的掩膜以及激光结晶方法有效
| 申请号: | 200710160996.2 | 申请日: | 2007-12-19 |
| 公开(公告)号: | CN101202218A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
| 发明(设计)人: | 孙铭伟 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/268;H01L21/336;B23K26/06 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
| 地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明提供一种应用于连续性侧向长晶技术的掩膜以及使用此掩膜的激光结晶方法。所述的掩膜包括主透光单元以及副透光单元。主透光单元相对于对称轴具有主对称透光区域。副透光单元沿对称轴位于主透光单元的两侧。副透光单元具有遮光图案,且遮光图案中具有相对于对称轴对称分布的复数个副透光区域。激光结晶方法步骤包含提供具有非晶硅层的基板、提供上述掩膜、使用激光通过掩膜熔融该非晶硅层以于基板上产生第一结晶区域、移动掩膜使副透光单元的第一副透光单元移动至与第一结晶区域的第二副结晶单元对应、以及使用激光通过掩膜熔融非晶硅层以于基板上产生第二结晶区域。 | ||
| 搜索关键词: | 应用于 连续性 侧向 技术 以及 激光 结晶 方法 | ||
【主权项】:
1.一种应用于连续性侧向长晶技术的掩膜,其特征是,该掩膜至少包括:一主透光单元,该主透光单元相对于一对称轴具有一主对称透光区域;以及一副透光单元,沿所述的对称轴位于所述的主透光单元的两侧,该副透光单元具有一遮光图案,且该遮光图案中具有相对于所述的对称轴对称分布的复数个副透光区域。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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