[发明专利]一种真空扩散连接TiAl金属间化合物的方法无效

专利信息
申请号: 200710144686.1 申请日: 2007-11-28
公开(公告)号: CN101176946A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 何鹏;冯吉才;王明;刘永斌;黄麟 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: B23K20/16 分类号: B23K20/16;B23K20/24
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 代理人: 韩末洙
地址: 150001黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种真空扩散连接TiAl金属间化合物的方法,它属于TiAl金属间化合物焊接领域。它解决了现有TiAl金属间化合物扩散连接技术中扩散连接温度高、扩散连接压力大的技术不足。本发明用置氢钛或钛合金箔片作为扩散连接中间层,利用钛在扩散连接温度下能形成Ti3Al+TiAl双相(α2+γ)组织,有利于形成高强度的TiAl金属间化合物扩散连接接头。而且由于氢导致钛或钛合金热变形流动应力的下降,热塑性的增加,从而使置氢钛或钛合金在高温下易于变形;同时氢在钛或钛合金中的自扩散和溶质扩散能力较高,特别是在β相内更高,因而氢可以加速合金元素的扩散,降低原子结合能,减小扩散激活能,提高扩散协调变形能力,可以在相对较低的温度下实现TiAl金属间化合物接头可靠的扩散连接。
搜索关键词: 一种 真空 扩散 连接 tial 金属 化合物 方法
【主权项】:
1.一种真空扩散连接TiAl金属间化合物的方法,是通过下述步骤实现的:一、扩散连接前对母材表面进行清理;二、把扩散中间层均匀的置于待焊母材的连接面上;三、将夹装好的焊件置于真空扩散焊机内进行加热,在真空度为1.33×10-3~4.0×10-3Pa真空条件下进行扩散连接;四、焊接结束后焊件在原真空条件下降温至100℃时撤压,降温到室温时,取出焊件;其特征在于扩散连接中间层为置氢钛或钛合金箔片,扩散连接中间层的厚度30~100μm。
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