[发明专利]集成电路元件测试插座、插座基板、测试机及其制作方法

摘要

本发明披露一种集成电路元件测试插座(Socket)、插座基板(socketboard)、测试机(tester)及其制作方法，其中的测试插座包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并且在此凹陷部设有多个弹性接触端子。另外，定位导持承座，容设于该凹陷部，此定位导持承座具有中央开口，用以接受并导正待测的集成电路元件的方位，在此中央开口的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。而且，另有锁合元件与弹性保持元件，将定位导持承座限制于凹陷部活动。

主权项

1.一种集成电路元件测试插座，其特征在于至少包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部；多个弹性接触端子，设于该凹陷部；定位导持承座，容设于该凹陷部，该定位导持承座具有中央开口以容置受测的集成电路元件，该中央开口的底部形成有多个容许上述这些弹性接触端子穿出的端子孔；以及至少一个锁合元件与至少一个弹性保持元件，将该定位导持承座限制于该凹陷部内活动。