[发明专利]集成电路元件测试插座、插座基板、测试机及其制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种集成电路元件测试设备及其制作方法，尤其涉及其中的集成电路元件测试插座者。

背景技术

一般集成电路元件在进行终端测试(Final Test)时，集成电路元件的电性接点或接脚需要与测试插座(Socket)中的探针做压合的动作。因此，测试信号可通过探针传至测试台(Tester)而判读集成电路元件的好坏。公知所使用的测试插座(Socket)，其探针嵌在插座基底而呈悬臂状，测试时，极容易因集成电路元件置入测试插座时刮除集成电路元件脚位或焊点上的焊锡而导致使用寿命(Life Time)与合格率(Yield)下降以及探针损伤，同时，因探针积蓄过多刮落的焊锡亦造成集成电路元件卡料现象。为了解决此问题，已有技术TW447178披露了一种非悬臂式的弹簧探针(pogo pin)结构，TW539128中披露一种以弹簧探针为基础的测试插座，TW485243披露一种以弹簧探针为基础的插座基板。前述的已有技术虽然改善了悬臂式探针的不利，然而却仍未解决当集成电路元件放入测试插座时若方位偏差而造成的探针损伤与卡料问题。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种集成电路元件测试插座(Socket)，包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并且在此凹陷部设有多个弹性接触端子。另外，定位导持承座，容设于该凹陷部，此定位导持承座具有中央开口，用以接受并导正待测的集成电路元件的方位，在此中央开口的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。而且，另有锁合元件与弹性保持元件，将定位导持承座限制于凹陷部活动。

因此，本发明的主要目的是提供一种集成电路元件测试插座，可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的次要目的是提供一种集成电路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种插座基板，其设置有集成电路元件测试插座，可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种插座基板，其设置有集成电路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试机，其设置有集成电路元件测试插座，可有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试机，其设置有集成电路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试插座的制作方法，此集成电路元件测试插座可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试插座的制作方法，集成电路元件测试插座可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

附图说明

图1是根据本发明所提出的第一实施例的一种集成电路元件测试插座的示意图。

图2A是根据本发明所提出的第二实施例的另一种集成电路元件测试插座的示意图。

图2B是根据本发明所提出的第二实施例的一种由至少一个导持元件所组配而成的定位导持承座组成的示意图。

图3是根据本发明所提出的第三实施例的另一种集成电路元件测试插座的示意图。

图4是根据本发明所提出的第四实施例的一种插座基板的示意图。

图5是根据本发明所提出的第五实施例的一种集成电路元件测试机的示意图。

主要元件标记说明

集成电路元件测试插座          20、30、40

插座本体                      21、31、41

凹陷部                        211、411

弹性接触端子                  2111

定位导持承座                  22、32、42

中央开口                      221、

肩部                          222

螺栓                          231

螺孔                          232

定位导持元件                  321