[发明专利]用于金属失真评估的探针有效

专利信息
申请号: 200710129086.8 申请日: 2007-07-11
公开(公告)号: CN101103919A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: A·沙尔吉;Y·尼灿 申请(专利权)人: 韦伯斯特生物官能公司
主分类号: A61B5/06 分类号: A61B5/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘杰;陈景峻
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于评估场失真的装置包括探针和处理器。所述探针包括:放置在待测试位置处的机械固定装置以及一个或更多场发生器,所述一个或更多场发生器附着至所述机械固定装置并被布置成用于产生相应磁场。探针进一步包括一个或更多场传感器,所述一个或更多场传感器在相对于一个或更多场传感器的已知位置处附着至机械固定装置,并被布置成用于感测由一个或更多场发生器产生的磁场和响应于所感测的磁场输出信号。所述处理器被布置成用于处理所述信号,以对场传感器在所测试位置感测的磁场失真进行评估。
搜索关键词: 用于 金属 失真 评估 探针
【主权项】:
1.一种用于评估场失真的装置,包括:探针,所述探针包括:放置在待测试位置处的机械固定装置;一个或更多场发生器,所述一个或更多场发生器附着至所述机械固定装置,并被布置成用于产生相应磁场;和一个或更多场传感器,所述一个或更多场传感器在相对于一个或更多场传感器的已知方位附着至所述机械固定装置,并被布置成用于感测由所述一个或更多场发生器产生的磁场和响应于所感测的磁场来输出信号;和处理器,所述处理器被布置成用于处理所述信号,以对磁场传感器在测试位置处感测的磁场的失真进行评估。
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