[发明专利]表面读取装置、对象物验证装置及存储介质无效
| 申请号： | 200710109129.6 | 申请日： | 2007-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN101206718A | 公开（公告）日： | 2008-06-25 |
| 发明（设计）人： | 清水正;木村哲也;伊藤健介 | 申请（专利权）人： | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号： | G06K9/20 | 分类号： | G06K9/20 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了表面读取装置、对象物验证装置及存储介质。该表面读取装置包括对象物弯曲机构和表面读取部件。所述对象物弯曲机构使对象物弯曲成凸面状和凹面状中的一种。所述表面读取部件读取已被所述对象物弯曲机构弯曲的所述对象物的表面状况的特征。所述表面读取部件可以包括光学读取部件，该光学读取部件对所述对象物的表面状况的特征进行光学读取。所述光学读取部件可以是利用反射光来读取所述对象物的表面状况的特征的反射光读取部件，或者可以是利用透射光来读取所述对象物的表面状况的特征的透射光读取部件。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 读取 装置 对象 验证 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种表面读取装置，该表面读取装置包括：对象物弯曲机构，其使对象物弯曲成凸面状和凹面状中的一种；和表面读取部件，其读取已被所述对象物弯曲机构弯曲的所述对象物的表面状况的特征。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士施乐株式会社，未经富士施乐株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200710109129.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种无接触电极的电能耦合装置
- 下一篇：一种治疗烧伤的油剂药物
