[发明专利]一种X射线荧光光谱法测定氟化铝中元素的方法无效
| 申请号： | 200710099822.X | 申请日： | 2007-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN101059456A | 公开（公告）日： | 2007-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张爱芬;张树朝;马慧侠 | 申请（专利权）人： | 中国铝业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人： | 李迎春 |
| 地址： | 100814北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线荧光光谱法测定氟化铝中元素的方法。其特征在于测定过程包括：a.标准样品和试样用硼酸盐混合熔剂在980℃～1000℃熔融制成玻璃样片；b.用X射线荧光光谱法测量标准样品的荧光强度、制作出校准曲线；c.将试样样片用X射线荧光光谱仪测量强度和计算出成份含量。使用本发明可以准确、快速的测定出氟化铝中元素含量。提高测定的准确度，满足氟化铝生产厂和用户的要求，提高工作效率，节约测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 光谱 测定 氟化 元素 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光光谱法测定氟化铝中元素的方法，其特征在于测定过程包括：a.标准样品和试样用硼酸盐混合熔剂在980℃～1000℃熔融制成玻璃样片；b.用X射线荧光光谱法测量标准样品的荧光强度、制作出校准曲线；c.将试样样片用X射线荧光光谱仪测量强度和计算出成份含量。
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