[发明专利]自动测试设备实现匹配测试的方法有效
| 申请号： | 200710094440.8 | 申请日： | 2007-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN101458301A | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 辛吉升;桑浚之;陈婷;夏奇峰 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 蔡光亮 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动测试设备实现匹配测试的方法，所述方法包括下列步骤：第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。本发明可以使不具有或仅具有简单匹配测试功能的自动测试设备实现匹配测试功能，从而满足某些特殊芯片的测试要求，扩展自动测试设备的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 设备 实现 匹配 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：所述方法包括下列步骤：第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。
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