[发明专利]芯片测试系统及方法无效
| 申请号： | 200710094412.6 | 申请日： | 2007-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN101458758A | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 陈婷;桑浚之;辛吉升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G06K5/00 | 分类号： | G06K5/00;G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周 赤 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试系统，一台计算机通过USB接口同多个读卡器通讯，读卡器用于插入待测芯片，所述计算机能通过读卡器向待测芯片写入、激活测试代码并询问测试结果。本发明还公开了一种芯片测试方法，将多个读卡器通过USB接口连接到一台计算机；将待测芯片插入读卡器；计算机通过读卡器给待测芯片写入测试代码，为待测芯片上电，依次激活各个待测芯片的测试代码，等待一段时间，询问待测芯片是否完成测试，如完成继续询问测试结果，如未完成等待一段时间再次询问，最终计算机获得测试结果。本发明的芯片测试系统及方法能并行测试多个芯片，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种芯片测试系统，包括计算机、多个读卡器，待测芯片有存储器并能执行存储器中的程序，其特征在于，一台计算机通过USB接口同多个读卡器通讯，读卡器用于插入待测芯片，所述计算机能通过读卡器向待测芯片写入、激活测试代码并询问测试结果。
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