[发明专利]电子器件测试装置及其所使用的触头无效

专利信息
申请号: 200710092376.X 申请日: 2007-02-25
公开(公告)号: CN101067642A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: 丹尼斯·B·歇尔;马修·L·吉尔克;何塞·E·洛皮兹 申请(专利权)人: 丹尼斯·B·歇尔;马修·L·吉尔克;何塞·E·洛皮兹
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 刘兴鹏;邵伟
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于可安装到测试器装置的负载板的测试装置的触头。该触头用于将被测器件的至少一根引线与负载板上的相应金属轨迹电气连接,其具有限定了多个接触点的第一端。当该触头绕大致垂直于由触头限定的平面的轴线旋转时,连续的接触点与被测器件的引线顺次接合。
搜索关键词: 电子器件 测试 装置 及其 使用
【主权项】:
1、一种测试装置,其安装到测试器装置的负载板以将被测器件(DUT)的至少一根引线与该负载板上的相应金属轨迹电气连接,该测试装置包括:-触头,其具有第一端和第二端,第一端限定多个可与该器件的引线接合的接触点,第二端具有与金属轨迹接合的弧形边,当所述触头的所述第一端与DUT的引线接合并被使得绕大致垂直于由所述触头限定的平面的轴线旋转时,弧形边可滚过该轨迹;和-用于将所述触头弹性安装在负载板和DUT之间的装置,用于当所述触头的所述第一端与DUT的引线接合时绕所述轴线旋转。
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