[发明专利]制造集成电路的方法无效
申请号: | 200710091630.4 | 申请日: | 2007-04-03 |
公开(公告)号: | CN101055426A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
发明(设计)人: | 肯尼斯·J.·古德瑙;格利高里·J.·曼恩;詹森·M.·诺曼;赛拉弗诺·布伊蒂 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;H01L21/00;H01L21/82;H01L27/02;G06F17/50 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 康建峰 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了一种制造方法的实施例,该方法创建并保持用于对具有符合所创建的性能和定时要求的各种结构的不同电路块进行构图的预先制作和预先限定掩模的库。本方法的实施例还使用对包括至少一个从库中选择的掩模的多个掩模的分步曝光,以在硅晶片上构图芯片设计,其中芯片设计由两个或更多互联的电路块构成。因此,对于给定的集成电路设计,可以从库中选择预先制作/预先限定的掩模,以为该设计的一个、一些或所有电路块进行构图。可选地,还可以特别地制作和限定另外的掩模以对设计中的其它电路块(例如,特殊用途逻辑)进行构图。可通过一般的或定制的接口电气连接以此方式所构图的电路块,来完成集成电路设计。 | ||
搜索关键词: | 制造 集成电路 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造方法,包括:形成多个掩模,其中所述多个掩模包含用于相应电路块的构图;分别就性能和定时限定每个所述掩模;和限定后将所述掩模保存在库中。
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