[发明专利]磁记录介质及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200710088666.7 申请日: 2007-03-14
公开(公告)号: CN101042879A 公开(公告)日: 2007-09-26
发明(设计)人: 渡边贞幸 申请(专利权)人: 富士电机电子设备技术株式会社
主分类号: G11B5/62 分类号: G11B5/62;G11B5/73;G11B5/84
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 范征
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的一个目的是提供具有达到高密度记录的磁性点的磁记录介质。本发明另一个目的是提供这种磁记录介质的简便制造方法。所述磁记录介质包含顺序层叠在非磁性基片1上的至少一层下层3、磁记录层4和保护层5。下层3由钌或主要是钌的合金构成,在该下层表面具有预定间距的脊形线形成的波形结构。磁记录层4至少含有铁磁晶粒和非磁性组分。磁记录层中由粒径不小于4纳米的晶粒构成的磁性点4-1在下层表面上沿脊形线对齐;每个磁性点4-1被非磁性组分4-2相互隔开。
搜索关键词: 记录 介质 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种磁记录介质,该磁记录介质包含:非磁性基片和顺序层叠在该非磁性基片上的至少一层下层、磁记录层和保护层;其中下层由钌或主要是钌的合金构成,在该下层表面上具有预定间距的脊形线形成的波形结构;磁记录层至少含有铁磁晶粒和非磁性组分;磁记录层中由粒径不小于4纳米的晶粒构成的磁性点在下层表面上沿脊形线对齐;每个磁性点被非磁性组分相互隔开。
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