[发明专利]一种快速测试PIN－TIA灵敏度的方法

摘要

本发明涉及一种快速测试PIN－TIA灵敏度的方法，其特征在于：其是PIN－TIA灵敏度测试过程如下：1)精确测量一批PIN－TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，2)先将灵敏度数值最高的标准PIN－TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置调整到合适的高度，然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；3)将待测PIN－TIA插到耦合台上，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；4)重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。

主权项

1、一种快速测试PIN-TIA灵敏度的方法，其特征在于：其是PIN-TIA灵敏度测试过程如下：1)、精确测量一批PIN-TIA的灵敏度，从中挑出一系列标准器件，比如选出灵敏度值分别为：-36dB，-36.5dBm，-37dBm，-37.5dBm，-38dBm，-38.5dBm，-39dBm，-39.5dBm，-40dBm；2)、.先将灵敏度数值最高的标准PIN-TIA插到耦合台上，将光衰减器的衰减值调到0dB，同时将耦合台上的陶瓷插芯位置抬高到合适的高度，使PIN-TIA的插取方便，同时要保证此时误码仪上没有误码产生；然后增大光衰减器的衰减量，直到误码仪上刚刚产生非常少的误码为止；3)、将待测PIN-TIA插到耦合台上，观察误码产生情况，误码率大时，表示待测器件的灵敏度低于标准器件；没有误码产生时，表示待测器件的灵敏度高于标准器件；产生很少误码时，表示待测器件的灵敏度与标准器件相等；4)、将标准器件中灵敏仅次于最高值的器件插到耦合台上，然后将3)中测出的灵敏度低于最高灵敏度的PIN-TIA插到耦合台上，采用与3)中一样的方法进行测试，分选出灵敏度分别高于、等于、低于标准器件的器件；5)、重复2)至3)，就可以全部测出所有待测器件的灵敏度，测试精度为±0.25dBm。