[发明专利]一种提高数控机床闭环控制系统精度的方法无效
申请号: | 200710066770.6 | 申请日: | 2007-01-17 |
公开(公告)号: | CN101004602A | 公开(公告)日: | 2007-07-25 |
发明(设计)人: | 潘旭华 | 申请(专利权)人: | 潘旭华 |
主分类号: | G05B19/402 | 分类号: | G05B19/402 |
代理公司: | 金华科源专利事务所有限公司 | 代理人: | 黄飞 |
地址: | 321203浙江省武义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明属于机械加工方法类,具体是一种数控机床提高闭环控制系统精度的方法,由指令给定装置将位置与速度指令输入,由比较器将输入信号与反馈信号进行比较,经调节放大后,驱动伺服驱动装置,在机床的工作位置设有位置检测装置器,检测信号进入比较器,本发明的位置检测装置先将普通检测元件与高精度检测元件的检测数据一一对应输入转换器,再移去高精度检测元件,直接用普通检测元件测量,并将所测各点普通位置数据输入转换器,而转换器将存储在其中的与该点普通位置数据相对应的高精度位置数据输入比较器,从而最终只需使用普通检测元件检测位置数据即可获得高精度位置数据,提高检测精度,并降低成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 数控机床 闭环 控制系统 精度 方法 | ||
【主权项】:
1、一种数控机床提高闭环控制系统精度的方法,由指令给定装置将位置与速度指令输入,由比较器将输入信号与反馈信号进行比较,经调节放大后,驱动伺服驱动装置,在机床的工作位置设有位置检测装置,检测信号进入比较器,其特征在于:位置检测装置先同时安装两组检测元件,一组为高精度检测元件,另一组为普通检测元件,两组检测元件有一共同的数据原点,导轨运动经过每个点位置时,都将由两组检测元件同时检测出各自的位置数据,并分别由测量软件记录,其中高精度检测元件检测出的是高精度位置数据,普通检测元件检测出的是普通位置数据,在每个点上的高精度位置数据与普通位置数据一一对应,将两组检测数据输入一转换器;移去高精度检测元件,由普通检测元件测量各点位置数据,并将所测各点普通位置数据输入转换器,而转换器将存储在其中的与该点普通位置数据相对应的高精度位置数据输入比较器,在比较器内与输入指令信号进行比较,从比较器输出的位置偏差信号,经调节放大后,驱动伺服驱动装置。
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