[发明专利]现场可编程门阵列查找表验证方法有效
申请号: | 200710050260.X | 申请日: | 2007-10-12 |
公开(公告)号: | CN101140596A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 李威;李平;廖永波;李文昌 | 申请(专利权)人: | 成都华微电子系统有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;G01R31/317 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所 | 代理人: | 王建国 |
地址: | 610054四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 现场可编程门阵列查找表验证方法,涉及集成电路技术,包括以下步骤:1)用软件预设目标LUT测试向量和对应的正确结果,并存储;2)软件部分根据LUT测试向量自动生成相应的配置文件,并传送配置文件到FPGA对其配置,硬件方根据配置文件关闭非本次测试的LUT,仅保留测试目标LUT;3)软件部分对硬件方FPGA施加LUT测试向量,然后将结果返回到软件方,软件方分析比对结果;4)返回步骤1)继续测试下一个LUT,直到完成全部LUT的测试;5)根据各次测试结果生成测试报告。本发明保证了输入和输出逻辑关系一一对应,确保FPGA内部的核心模块工作正常。且速度得到提高。同时极大的提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 现场 可编程 门阵列 查找 验证 方法 | ||
【主权项】:
1.现场可编程门阵列查找表验证方法,其特征在于,包括以下步骤:1)用软件预设目标LUT测试向量和对应的正确结果,并存储;2)软件部分根据LUT测试向量自动生成相应的配置文件,并传送配置文件到FPGA对其配置,硬件方根据配置文件关闭非本次测试的LUT,仅保留测试目标LUT;3)软件部分对硬件方FPGA施加LUT测试向量,然后将结果返回到软件方,软件方分析比对结果,4)返回步骤1)继续测试下一个LUT,直到完成全部LUT的测试;5)根据各次测试结果生成测试报告。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都华微电子系统有限公司,未经成都华微电子系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710050260.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:像素结构的制作方法
- 下一篇:一种对银行卡持卡者真实身份识别方法