[发明专利]触控装置定点测试的改善方法无效
| 申请号： | 200710048106.9 | 申请日： | 2007-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN101436109A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 刘庆珍;王军 | 申请（专利权）人： | 英华达（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈 亮 |
| 地址： | 201114*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种触控装置定点测试的改善方法，其主要目的在藉由一预先记录的正确参考坐标值与测试的点坐标作比对及多次验证程序以进行反复验证，藉此可提高触控装置定点测试的准确度并节省因操作错误而耗损的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 定点 测试 改善 方法 | ||
【主权项】：
1、一种定点测试改善方法，该方法包括下列步骤：提供多个正确参考座标值；产生第一定点座标值；判断该第一定点座标值与该正确参考座标值的误差是否在一预设误差范围内，该第一定点坐标临靠于该正确参考座标，若是，则储存该第一定点座标值，若否，重新产生该第一定点座标值；产生第二定点座标值；以及判断该第二定点座标值与该第一定点座标值的误差是否存在，若是，重新产生该第一定点座标值，若否，则确认该第一定点座标值。
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