[发明专利]基于后向光子相关光谱的高浓度超细颗粒测量装置及方法无效
申请号: | 200710045852.2 | 申请日: | 2007-09-12 |
公开(公告)号: | CN101122555A | 公开(公告)日: | 2008-02-13 |
发明(设计)人: | 郑刚;杨晖;李孟超 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N21/25 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 吴宝根 |
地址: | 200093*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于后向光子相关光谱的高浓度超细颗粒测量装置及方法,入射光路由激光器、平面反射镜、透镜组、针孔光阑和样品池组成,接收光路由样品池、透镜组、针孔光阑组成,散射信号的采集和处理单元由光探测器、数字相关器和计算机组成;测量步骤为:1.用激光器作为光源,照射到盛有颗粒的样品池内;2.用光电倍增管作为光探测器以180度的散射角连续测量散射光信号;3.用数字相关器对光电倍增管输出的脉冲信号进行计数,并计算自相关函数送入计算机;4.计算机根据所计算的自相关函数求得颗粒的粒径。本发明测量精度高速度快,并可进行在线测量;光路部分采用的都是普通的光学原件,因此可大大降低了装置的成本,而且易于维护。 | ||
搜索关键词: | 基于 光子 相关 光谱 浓度 颗粒 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于后向光子相关光谱的高浓度超细颗粒测量装置,包括入射光路,接收光路,散射信号的采集和处理单元,其特征在于,所述入射光路由激光器(1)、平面反射镜(2)、透镜(3,5,6)、针孔光阑(4)和样品池(7)组成,所述接收光路由样品池(7)、透镜(6,5,3.8,10,11)、针孔光阑(4,9,12)组成,散射信号的采集和处理单元由光探测器(13)、数字相关器(14)和计算机(15)组成;光电探测器(13)安装在180度散射角的光路上,使散射光依次通过透镜(6)、透镜(5),针孔光阑(4),透镜(3)、透镜(8),针孔光阑(9),透镜(10,11),针孔光阑(12)后进入光电探测器(13),其中透镜(6)用于将入射激光聚焦于样品溶液内一点,以及散射光的接收;透镜(3)、针孔光阑(4)和透镜(5),以及透镜(8)、针孔光阑(9)和透镜(10)组成一组共轭的空间滤波装置,用于滤除信号在传输过程中的杂散光;透镜(11)用于将散射光信号聚焦在光电探测器(13)的接收面上,以保证信号的强度;针孔光阑(12)用于限定光电探测器(13)的接收面积以确保系统的相干性。
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