[发明专利]液晶显示器阵列测试检查电路的引线无效

专利信息
申请号: 200710045575.5 申请日: 2007-09-04
公开(公告)号: CN101382566A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: 秦锋 申请(专利权)人: 上海广电NEC液晶显示器有限公司
主分类号: G01R1/06 分类号: G01R1/06;G01R31/00;G01R31/02;G09G3/00;G09G3/36
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 薛 琦
地址: 201108上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种液晶显示器阵列测试检查电路的引线,该引线连接信号总线和端子部,L1为信号总线奇线引入部分的引线的长度,L2为信号总线偶线引入部分的引线的长度,W1为信号总线奇线引入部分的引线的宽度,W2为信号总线偶线引入部分的引线的宽度,满足W1/L1=W2/L2。由于测试电路从信号总线到端子部的引线通过一定的宽长比原则来设计,所以采用本发明的技术方案后,测试电路从信号总线到端子部的引线电阻保持一致,从而提高阵列测试的准确度。
搜索关键词: 液晶显示器 阵列 测试 检查 电路 引线
【主权项】:
1. 一种液晶显示器阵列测试检查电路的引线,所述引线(1)连接信号总线(2)和端子部(3),其特征在于,L1为信号总线奇线引入部分的引线的长度,L2为信号总线偶线引入部分的引线的长度,W1为信号总线奇线引入部分的引线的宽度,W2为信号总线偶线引入部分的引线的宽度,满足W1/L1=W2/L2。
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