[发明专利]太阳电池及组件隐裂检测装置及其测试方法有效
申请号: | 200710045393.8 | 申请日: | 2007-08-30 |
公开(公告)号: | CN101378092A | 公开(公告)日: | 2009-03-04 |
发明(设计)人: | 刘小宇;李红波 | 申请(专利权)人: | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/66;G01N21/95 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 | 代理人: | 郑丹力 |
地址: | 200243上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种太阳电池及组件隐裂检测装置;包括:红外成像单元[1]通过导线[2]同计算机[3]连接;可控直流电源[5]通过导线[4]与计算机[3]连接;可控直流电源[5]通过导线[6]与待测太阳电池或组件[7]连接。本发明还公开了上述测试装置的检测方法,包括:1.通过计算机设置电流的大小;2.给待测元件通以电流;3.用红外成像单元检测待测太阳电池或组件在步骤2发出辐射热像;4.将辐射热像传输到一个计算机处理系统得出隐裂参数的过程。本发明解决了生产线隐裂检测漏检率和误差率高的问题,取得了结构简单、使用方便、隐裂参数检测可靠精确等有益效果。 | ||
搜索关键词: | 太阳电池 组件 检测 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
1、一种太阳电池及组件隐裂检测装置;其特征在于,该装置包括:红外成像单元[1]通过导线[2]同计算机[3]连接;可控直流电源[5]通过导线[4]与计算机[3]连接;可控直流电源[5]通过导线[6]与待测太阳电池或组件[7]连接;所述的可控直流电源[5]提供待测太阳电池或组件[7]一定大小的电流。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的