[发明专利]一种光电式清纱检测方法及其装置无效
| 申请号： | 200710045116.7 | 申请日： | 2007-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN101118221A | 公开（公告）日： | 2008-02-06 |
| 发明（设计）人： | 彭和建;吴作良;徐一凡 | 申请（专利权）人： | 上海科华光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01N21/898 | 分类号： | G01N21/898;G01N33/36;D06H3/00 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 | 代理人： | 吴泽群 |
| 地址： | 201101上海市长*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电式清纱检测方法及其装置，所述方法是：利用紫外光源照射纱线，将由此产生的光信号经过一个反射屏面反射回来，反射回来的光信号被紫外增强型探测器接收后输出给信号处理系统，然后信号处理系统对输入的微电流信号经过放大、滤波、整形和比较处理，最后输出检测信号。实现所述方法的检测装置主要包括一个由紫外发光二极管和紫外增强型硅光电二极管探测器组成的探测屏面和一个与此屏面相向平行设置的反射屏面，两屏面间的间隙构成纱线检测通道。本发明用光电式检测方法实现了光电式和电容式相结合式检测方法的同等功能，且所用检测装置设计简单、制造成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 式清纱 检测 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光电式清纱检测方法，其特征在于，利用紫外光源照射纱线，将由此产生的光信号经过一个反射屏面反射回来，反射回来的光信号被紫外增强型探测器接收后输出给信号处理系统，然后信号处理系统对输入的微电流信号经过放大、滤波、整形和比较处理，最后输出检测信号。
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