[发明专利]一种光电式清纱检测方法及其装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种清纱检测方法及其装置，更具体地说，是涉及一种光电式清纱检测方法及其装置，属于纺纱技术领域。

背景技术

清纱器的检测方法分为光电式、电容式及两者相结合式。光电式清纱检测方法是通过检测纱线的轮廓影象，即光通量的变化，来分辨纱线的直径变化，因此，一般只能检测出纱线上的结头、毛粒、短粗、长粗、长细的变化，目前尚不能检测出异质纤维和同质异色纤维。当今世界上广泛应用光电式与电容式相结合的检测方式，达到疵点检测及同质异色纤维、同色异质纤维的检测目的，但这种检测方法所使用的检测装置设计复杂、制造成本高。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足，提供一种光电式清纱检测方法及其装置，以解决现有光电式清纱检测方法只能检测出疵点，不能检测出同色异质纤维和同质异色纤维的缺陷。

为达到上述发明目的，本发明通过以下技术方案予以实现：

本发明提供的光电式清纱检测方法如下：利用紫外光源照射纱线，将由此产生的光信号经过一个反射屏面反射回来，反射回来的光信号被紫外增强型探测器接收后输出给信号处理系统，然后信号处理系统对输入的微电流信号经过放大、滤波、整形和比较处理，最后输出检测信号。

若是同色异质纱线，如：丙纶丝、涤纶丝或尼龙丝，反射回来的光信号为异质纱线被紫外光激发后产生的没有被探测器直接接收的部分荧光信号；若是同质异色纱线，反射回来的光信号为同质异色纱线对紫外光产生的不同反射光。

实现本发明光电式清纱检测方法的检测装置，包括外壳支架、发光管和探测器，所述发光管和探测器组成一探测屏面，在与此屏面相向平行设置有一个由反光镜组成的反射屏面，所述探测屏面和反射屏面均设置在外壳支架的内表面上，两屏面间的间隙为纱线检测通道；所述发光管为紫外发光二极管；所述探测器为紫外增强型硅光电二极管。

在所述探测屏面上设置有一个滤光片，以滤除紫外光以外的其他成分和红外光线；所述滤光片的透过光波波长为400nm±70nm，即对330～470nm以外的光源透过率很低。

所述外壳支架为凹形体，探测屏面和反射屏面分别设置在凹形外壳支架左、右竖直面的内表面上。

所述发光管位于探测器两侧，且两侧发光管分布位置对称；发光管的个数最好是2～8个，每侧各1～4个。

上述紫外发光二极管的发光波长最好在340～405nm范围内。

上述紫外增强型硅光电二极管探测器，能从190nm开始响应，在波长200nm处接受一瓦特光的照射，能产生0.10安培左右的光电流，在峰值响应处(720nm处)接受一瓦特光的照射，能产生0.36安培左右的光电流，在25℃，加1伏特反偏压测得的暗电流为10-10安培。

本发明与现有技术相比，具有的有益效果为：无需采用光电式和电容式相结合式检测方法，只用光电式检测方法便能检测出异质纤维、同质纤维纱线上的杂色，并给出结头、毛粒、短粗、长粗、长细等纱疵信号，比实现同等功能的检测装置设计简单、制造成本低廉。

附图说明

图1为实施例的结构示意图；

图2为实施例的工作示意图。

图中：1-外壳支架；2-发光管；3-探测器；4-滤光片；5-反光镜；6-纱线；7-信号处理系统。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明，其目的仅在于更好理解本发明的内容而非限制本发明的保护范围：

实施例