[发明专利]工业数字射线成像检测最优透照参数系统建立方法

摘要

本发明公开了一种工业数字射线成像检测最优透照参数系统建立方法。它解决了现有X－射线数字成像检测中最优系统透照参数系统建立方法的缺乏，导致不能正确进行工业数字射线成像检测等问题，提供了一种使工业数字射线成像检测具备一个可靠有效的最优参数选择系统。其方法为：(1)确定待检测工件厚度；(2)在成像系统上建立U(Kv)～d(mm)关系的曲线；(3)形成成像系统建模透照参数选择参考曲线U(Kv)～I_m(mA)；(4)拟合(2)和(3)中的曲线，获得相应的最优透照参数和建模参数数学表达式；(5)根据(2)和(3)建立的最优透照参数；(6)得到的即为符合B级检测质量要求的工件数字图像。

主权项

1.一种工业数字射线成像检测最优透照参数系统建立方法，它的方法为，(1)确定要在数字射线检测系统上进行检测的工件厚度d，单位为mm，若不是钢，则进行等效钢厚转换；(2)在成像系统上，以被检测工件厚度d为自变量，建立横坐标轴；以透照电压U即X-射线机电压为因变量，建立纵坐标轴，形成形式为：U(Kv)～d(mm)关系的曲线；该曲线中每一个数据对(U，d)处，皆根据试验获取软射线滤波参数、散射线屏蔽、透照电流、焦距、校正参数、透照时间的最佳值，要求在成像系统上按照上述参数对工件进行透照检测，可使被检测工件的成像质量达到胶片照相的最高级B级；(3)以该系统上当前被检测物体的厚度d，按照(2)获得对应的透照电压U，以U为自变量建立横坐标轴；再根据数字探测器亮场建模所规定的灰度阈值，利用(2)中对应的软射线滤波参数、透照时间、焦距，在探测器空屏透照下根据试验获得系统建模电流Im，以Im 为因变量建立纵坐标轴，形成成像系统建模透照参数选择参考曲线U(Kv)～Im(mA)；(4)拟合(2)和(3)中的曲线，获得相应的最优透照参数和建模参数数学表达式；(5)根据(2)和(3)建立的最优透照参数，成像系统在对工件进行数字成像检测前，首先根据被检测工件的厚度d，按照(2)确定透照电压、软射线滤波参数、焦距参数值，被调整到待准备校正状态；再通过d对应的透照电压U，根据(3)中的建模透照电流Im，对处于待校正的成像系统进行校正并建立校正模型；(6)对处于已被校正状态的系统，在探测器前放置被检测工件，并按照(2)中的射线屏蔽参数、透照时间参数、透照电流参数对工件进行透照成像，得到的即为符合B级检测质量要求的工件数字图像。