[发明专利]工业数字射线成像检测散射处理方法无效

专利信息
申请号: 200710014671.3 申请日: 2007-05-25
公开(公告)号: CN101055314A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 孔凡琴 申请(专利权)人: 孔凡琴;陈仁富
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01B15/02
代理公司: 济南圣达专利商标事务所 代理人: 张勇
地址: 250100山东省济南*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种工业数字射线成像检测散射处理方法。它解决了现有散射处理方法复杂、运行速度慢,依赖具体成像条件,不适于工程应用的问题,具有运行速度快、算法有效性强、工程应用价值大,适于工业X-射线数字成像检测等优点。其方法为:(1)获取原始图像A(m,n),其中m、n为像素点的横纵坐标值,并读取图像长度h和图像宽度w;(2)在空间域建立一个模板M,该模板与图像点对点平滑运算,得到散射图像,其中模板尺寸为:h0×w0=h/16×w/16(h0,w0通常取二者中最小的奇数,如为偶数,则近似取),h为图像长度,w为图像宽度,模板系数采用等平均权重分布;(3)定义被检测工件厚度不均匀补偿系数r,与散射图像S'的灰度值相乘,再与原始图像相减即可。
搜索关键词: 工业 数字 射线 成像 检测 散射 处理 方法
【主权项】:
1、一种工业数字射线成像检测散射处理方法,其特征是:(1)获取的原始图像A(m,n),其中m、n为像素点的横纵坐标值,并读取图像长度h和图像宽度w;(2)在空间域建立一个模板M,该模板与图像点对点平滑运算,得到散射图像,其中模板尺寸为: h 0 × w 0 = h 16 × w 16 , 其中h0,w0取二者中最小的奇数,如为偶数,则近似取,h为图像长度,w为图像宽度,模板系数采用等平均权重分布;(3)定义被检测工件厚度不均匀补偿系数r,与散射图像S’的灰度值相乘,再与原始图像相减,便可达到散射处理的目的。
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