[发明专利]工业数字射线成像检测散射处理方法

说明书

技术领域：

发明涉及一种成像散射处理方法，尤其涉及一种工业数字射线成像检测散射处理方法。

背景技术：

目前在工业X-射线的数字成像检测中，散射是降低图像质量的一个重要因素。采用图像处理手段减低图像散射是数字化检测技术的优势。在现有的处理方法中，通常是通过获取系统的点扩展函数PSF(Point Spread Function)，建立系统散射模型，这种处理方法复杂、运行速度慢、依赖于具体的成像条件，不适于工程应用。工业中非常需要一种高速、有效的散射处理方法。

发明内容：

本发明的目的就是为了解决现有的散射处理方法复杂、运行速度慢，依赖具体成像条件，不适于工程应用的问题，提供一种工业数字射线成像检测散射处理方法，它是一种基于空间域的工业X-射线数字成像检测散射处理方法，具有运行速度快、算法有效性强、工程应用价值大，适于工业X-射线数字成像检测等优点。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种工业X-射线数字成像检测散射处理方法，它的方法为，

(1)获取的原始图像A(m，n)，其中m、n为像素点的横纵坐标值，并读取图像长度h和图像宽度w；

(2)在空间域建立一个模板M，该模板与图像点对点平滑运算，得到散射图像，其中模板尺寸为： h 0 × w 0 = h 16 × w 16 ]]>(h₀，w₀通常取二者中最小的奇数，如为偶数，则近似取)，h为图像长度，w为图像宽度，模板系数采用等平均权重分布；

(3)定义被检测工件厚度不均匀补偿系数r，与散射图像S’的灰度值相乘，再与原始图像相减，便可达到散射处理的目的。

所述步骤(2)中，模板系数为在模板尺寸的窗口内，采用等平均权重分布

所述步骤(2)中，模板M与原始图像的每一点A(m，n)卷积运算，运算公式为：

S ′ ( m , n ) = 1 h 0 × w 0 Σ m = 1 h 0 Σ n = 1 w 0 A ( m , n ) . ]]>

所述步骤(3)中，被检测工件厚度补偿系数r是一个在0～1之间的数，厚度均匀的工件，r在0.3～0.5中取值；厚度明显不均匀，则r在0.8～0.9之间取值。

所述步骤(3)中根据被检测工件厚度，确定散射补偿系数r，与散射图像S’中的每一点相乘，运算公式为：S＝r×S′(m，n)。

所述步骤(3)，散射图像S与原始图像中的每一点进行C(m，n)＝A(m，n)-S(m，n)运算，完成散射处理。