[发明专利]一种二阶非线性光学测试系统

摘要

一种二阶非线性光学测试系统，涉及光学测试系统的研制。该测试系统的最大特点是该系统在激光激发样品产生的倍频光及其它光效应产生的非倍频光后入射至谱仪，通过谱仪把倍频光和非倍频光分开，在谱仪后采用阵列探测器进行探测，从而实现对倍频光和非倍频光的识别，进而实现对材料的倍频效应进行定性和定量测试，具有对材料的倍频光高分辨率、高灵敏度的优点，有利于弱信号二阶非线性光学效应的测试，同时它适合于可见近红外以及中远红外二阶非线性光学效应的测试。

主权项

1.一种二阶非线性光学测试系统，本系统包括激光光源(1)，样品室(2)，探测器(4)，其特征在于：该系统在样品室(2)与探测器(4)之间放置谱仪(3)，将激光激发样品产生的倍频光及其它光效应产生的非倍频光分开，在谱仪(3)后采用探测器(4)探测倍频光。