[发明专利]用于产生相位对比图像的X射线装置的焦点/检测器系统有效
申请号: | 200710007958.3 | 申请日: | 2007-02-01 |
公开(公告)号: | CN101011254A | 公开(公告)日: | 2007-08-08 |
发明(设计)人: | 克里斯琴·戴维;比约恩·海斯曼;埃克哈德·亨普尔;弗朗兹·法伊弗;斯蒂芬·波普斯库 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01N23/04;G01N23/20;G01N23/06;H05G1/02;H05G1/62;G01T1/28;G01T7/00;G21K1/06;G21K1/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种X射线装置的焦点/检测器系统和用于产生投影或断层造影相位对比图像的方法,包括:具有焦点(F1)和设置在焦点一侧的源光栅(G0)的辐射源(2),该源光栅设置在辐射路径中并产生射线相干的X射线(Si)场;具有相位光栅(G1)和检测器(D1)的光栅/检测器装置,该相位光栅具有平行于源光栅(G0)的光栅线用以产生相干图案,该检测器具有多个平面设置的检测器元件(Ei)用以测量相位光栅后的取决于位置的辐射强度;检测器元件(Ei)由多个纵向闪烁条纹(SSi)形成,闪烁条纹平行于相位光栅(G1)的光栅线并且具有小周期(ps),该周期的整数倍对应于相干图案的、由相位光栅形成的平均大周期(p2)。 | ||
搜索关键词: | 用于 产生 相位 对比 图像 射线 装置 焦点 检测器 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于产生投影或断层造影相位对比图像的X射线装置的焦点/检测器系统,至少包括:1.1.具有焦点(F1)和设置在焦点一侧的源光栅(G0)的辐射源(2),其中该源光栅设置在辐射路径中并产生射线相干的X射线(Si)场,1.2.具有相位光栅(G1)和检测器(D1)的光栅/检测器装置,其中该相位光栅具有平行于源光栅(G0)的光栅线用以产生相干图案,该检测器具有多个平面设置的检测器元件(Ei)用以测量在相位光栅后的、取决于位置的辐射强度,1.3.其中,所述检测器元件(Ei)由多个纵向闪烁条纹(SSi)构成,这些闪烁条纹平行于相位光栅(G1)的光栅线并且具有小周期(ps),该周期的整数倍对应于相干图案的、由相位光栅形成的平均大周期(p2)。
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