[发明专利]形成抗蚀图案的方法、半导体器件及其生产方法有效
申请号: | 200710002394.4 | 申请日: | 2007-01-15 |
公开(公告)号: | CN101226335A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 小泽美和;野崎耕司 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G03F7/16 | 分类号: | G03F7/16;G03F7/26;G03F7/004;H01L21/027;H01L21/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 吴小瑛 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是提供一种形成抗蚀图案的方法,其中ArF准分子激光可用作图案化的曝光光源,抗蚀图案可不依赖于抗蚀图案尺寸稳定地增厚到预定厚度,且微小空间图案的精细度可超过曝光设备的曝光或分辨率的极限。本发明的形成抗蚀图案的方法至少包括:形成抗蚀图案,涂覆抗蚀图案增厚材料以覆盖该抗蚀图案的表面,焙烘该抗蚀图案增厚材料,显影和分离该抗蚀图案增厚材料,其中涂覆、焙烘和显影步骤中的至少一个步骤被执行多次。 | ||
搜索关键词: | 形成 图案 方法 半导体器件 及其 生产 | ||
【主权项】:
1.一种形成抗蚀图案的方法,至少包括:形成抗蚀图案,涂覆抗蚀图案增厚材料以覆盖所述抗蚀图案的表面,所述抗蚀图案增厚材料包括至少一种树脂和由如下所示通式(1)表示的化合物,焙烘所述抗蚀图案增厚材料,和显影并分离所述抗蚀图案增厚材料,其中涂覆、焙烘和显影步骤中的至少一个步骤被执行多次;
通式(1)通式(1)中,“X”表示由下列结构式(1)表示的官能团;“Y”表示羟基、氨基、烷基取代的氨基、烷氧基、烷氧羰基和烷基中的至少一种,其中的取代数为0至3的整数;“m”表示1或1以上的整数,“n”表示0或0以上的整数;
结构式(1)结构式(1)中,“R1”和“R2”可以是相同的或不同的,各自表示氢原子或取代基;“Z”表示羟基、氨基、烷基取代的氨基和烷氧基中的至少一种,其中的取代数为0至3的整数。
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