[发明专利]半导体激光器有效

专利信息
申请号: 200710002036.3 申请日: 2005-02-17
公开(公告)号: CN1992459A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: 外山智一郎 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: H01S5/227 分类号: H01S5/227;H01S5/028;H01S5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 刘建
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体激光器:具有:半导体基板;以叠层在所述半导体基板上,形成条形状发光区域,进行振荡波长λ的激光振荡的方式叠层半导体层而形成的半导体叠层部;在所述半导体叠层部的所述条形状发光区域的一端部,以成为规定的反射率的方式形成的第1电介质膜;在所述条形状发光区域的另一端部,以达到与所述第1电介质膜相比更高的高反射率的方式形成的第2电介质膜;而且,所述第1电介质膜由氧化铝膜形成,且所述氧化铝膜的厚度是满足以下条件的厚度,即,达到所要求的反射率,并且,当相对于光的波长的所述反射率变化的曲线中振荡波长成为所述λ时斜率为负,同时按光学距离为0.6λ以上的厚度。
搜索关键词: 半导体激光器
【主权项】:
1.一种半导体激光器:具有:半导体基板、以叠层在所述半导体基板上,形成条形状发光区域,进行振荡波长λ的激光振荡的方式叠层半导体层而形成的半导体叠层部、在所述半导体叠层部的所述条形状发光区域的一端部,以成为规定的反射率的方式形成的第1电介质膜、在所述条形状发光区域的另一端部,以达到与所述第1电介质膜相比更高的高反射率的方式形成的第2电介质膜;而且,所述第1电介质膜由氧化铝膜形成,且所述氧化铝膜的厚度是满足以下条件的厚度,即,达到所要求的反射率,并且,当相对于光的波长的所述反射率变化的曲线中振荡波长成为所述λ时斜率为负,同时按光学距离为0.6λ以上的厚度。
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