[发明专利]决定检测存储阵列输出的最佳时间情况存储

摘要

一种存储部件内的跟踪电路，其在最佳时间情况产生检测使能信号。该跟踪电路包括含有许多个虚设单元(220，230，240)的可升级驱动器块，每个虚设单元具有的驱动强度与存储阵列(120)内单元的驱动强度相同。虚设单元被开启并像存储阵列内的存储单元一样驱动存储列。结果，至少当行的数目大时，可升级驱动器块模拟列(列内的许多个行)引起的延迟。在行的数目较小的情形下，反向控制逻辑仿真该延迟，并且反向控制逻辑和可升级驱动器块中的一个提供用于触发检测操作的脉冲。

主权项

1.一种存储设备，其包含：存储阵列，其包含被组织为多个行和多个列的多个存储单元，每个所述多个存储单元存储相应的比特值；多个列线路，每个列线路在所述多个列的相应的一列中提供单元输出的共同路径；多个行使能信号，每个行使能信号使能所述多个行中使所述单元在所述多个列线路上提供所述相应的比特值的相应的一行中的单元；解码器，其接收行地址并依照所述行地址使能所述多个行使能信号中的一个行使能信号；多个检测放大器部件，每个所述多个检测放大器部件被连接以接收所述多个列中相应的一列上的相应比的特值，所述多个检测放大器部件依照检测使能信号检测所述多个列；以及跟踪电路，其在最佳时间情况产生所述检测使能信号，所述跟踪电路包含：可升级驱动器块，其包含由虚设列连接的多个虚设单元，每个所述虚设单元具有的驱动强度与所述多个单元的驱动强度相同，所述可升级驱动器块接收第一脉冲并产生带有延迟的第一转换，该延迟基本等于所述比特值在相应列上传播带有的延迟；以及控制块，其接收所述第一转换并作为响应产生所述检测使能信号。