[发明专利]3D场传感器的校准有效
申请号: | 200680038810.X | 申请日: | 2006-09-01 |
公开(公告)号: | CN101292131A | 公开(公告)日: | 2008-10-22 |
发明(设计)人: | T·P·皮尔瓦奈南 | 申请(专利权)人: | 诺基亚公司 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01P21/00;G01C17/38;G01R33/02 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 吴立明;赵林琳 |
地址: | 芬兰*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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摘要: | 公开一种用于校准3D场传感器的基于装置的方法。该方法包括获取多个采样,其中采样来自3D场传感器。各采样代表3D场传感器所感测的三维场的量值和取向。使用多个采样确定椭球的多个参数。确定多个参数使得椭球拟合多个采样。确定将椭球变换成球的变换。将变换应用于采样以创建变换的采样。还公开装置和信号承载介质。 | ||
搜索关键词: | 传感器 校准 | ||
【主权项】:
1.一种用于校准三维(3D)场传感器的基于装置的方法,包括:获取多个采样,所述采样来自所述3D场传感器,各采样代表所述3D场传感器所感测的3D场的量值和取向;使用所述多个采样确定椭球的多个参数,其中执行对所述多个参数的确定使得所述椭球拟合所述多个采样;确定将所述椭球变换成球的变换;以及将所述变换应用于采样以创建变换的采样。
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