[发明专利]用于扫描光学记录介质的设备和方法以及光学记录介质无效
| 申请号： | 200680038143.5 | 申请日： | 2006-10-06 |
| 公开（公告）号： | CN101288122A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | J·H·M·斯普鲁伊特;H·A·J·卢伊曼斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;刘红 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于扫描光学记录介质(3)的设备(1)，其包括：光学单元(5)，其用于通过利用辐射束(21)扫描所述记录介质(3)而从所述记录介质(3)读取数据和/或向所述记录介质(3)写入数据，响应于跟踪误差信号而将所述辐射束(21)定位在所述记录介质(3)上，其还包括用于生成所述跟踪误差信号的跟踪装置(7)，以及用于控制所述辐射束(21)相对于所述记录介质(3)上的轨道的径向扫描位置的位置控制装置(11)。为了提供甚至在不对称跟踪条件下也能实现可靠跟踪的设备(1)，本发明提出，所述设备(1)进一步包括校准装置(9)，其用于确定所述跟踪误差信号的径向偏移，所述径向偏移通过跟踪在具有不对称跟踪条件的所述记录介质(3)上的测试轨道区(23)的第一测试轨道(45)而获得，其中该位置控制装置(11)适于在不对称跟踪条件下利用所述跟踪误差信号和所述径向偏移来控制所述辐射束(21)相对于所述记录介质(3)上的轨道的径向扫描位置。本发明还涉及一种相应的用于扫描光学记录介质(3)的方法、一种相应的光学记录介质(3)，以及一种相应的计算机程序。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 扫描 光学 记录 介质 设备 方法 以及 | ||
【主权项】：
1.一种用于扫描光学记录介质(3)的设备(1)，包括：-光学单元(5)，其用于通过利用辐射束(21)扫描所述记录介质(3)而从所述记录介质(3)读取数据和/或向所述记录介质(3)写入数据，响应于跟踪误差信号而将所述辐射束(21)定位在所述记录介质(3)上，-跟踪装置(7)，其用于生成所述跟踪误差信号，-位置控制装置(11)，其用于控制所述辐射束(21)相对于所述记录介质(3)上的轨道的径向扫描位置，其特征在于，所述设备(1)进一步包括-校准装置(9)，其用于确定所述跟踪误差信号的径向偏移，所述径向偏移通过跟踪在具有不对称跟踪条件的所述记录介质(3)上的测试轨道区(23)的第一测试轨道(45)而获得，以及-该位置控制装置(11)适于在不对称跟踪条件下利用所述跟踪误差信号和所述径向偏移来控制所述辐射束(21)相对于所述记录介质(3)上的轨道的径向扫描位置。
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