[发明专利]用于扫描光学记录介质的设备和方法以及光学记录介质

权利要求书

1.一种用于扫描光学记录介质(3)的设备(1)，包括：

-光学单元(5)，其用于通过利用辐射束(21)扫描所述记录介质(3)而从所述记录介质(3)读取数据和/或向所述记录介质(3)写入数据，响应于跟踪误差信号而将所述辐射束(21)定位在所述记录介质(3)上，

-跟踪装置(7)，其用于生成所述跟踪误差信号，

-位置控制装置(11)，其用于控制所述辐射束(21)相对于所述记录介质(3)上的轨道的径向扫描位置，

其特征在于，所述设备(1)进一步包括

-校准装置(9)，其用于确定所述跟踪误差信号的径向偏移，所述径向偏移通过跟踪在具有不对称跟踪条件的所述记录介质(3)上的测试轨道区(23)的第一测试轨道(45)而获得，以及

-该位置控制装置(11)适于在不对称跟踪条件下利用所述跟踪误差信号和所述径向偏移来控制所述辐射束(21)相对于所述记录介质(3)上的轨道的径向扫描位置。

2.根据权利要求1所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述光学单元(5)适于形成所述测试轨道区(23)。

3.根据权利要求2所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述光学单元(5)适于通过在与所述第一测试轨道(45)相邻的第二测试轨道(47)上进行写入而形成所述测试轨道区(23)，所述第二测试轨道(47)包括至少一个已写入部分(51)和至少一个未写入部分(53)。

4.根据权利要求3所述的用于扫描的设备(1)，

其中在与所述第一测试轨道(45)相邻且与所述第二测试轨道(47)相对的位置提供第三测试轨道(49)，其中所述第一测试轨道(45)和所述第三测试轨道(49)优选是至少部分为空的轨道。

5.根据权利要求3所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述第二测试轨道(47)由两个至少部分为空的轨道(45，55)所包围。

6.根据权利要求3所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述已写入和/或所述未写入部分(51，53)中的至少一个跨越一个角范围，所述角范围小于所述位置控制装置(11)的反应的阈值时间乘以操作过程中记录介质(3)的角速度。

7.根据权利要求3所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述至少一个已写入部分(51)包括高频数据模式。

8.根据权利要求2所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述光学单元(5)适于在所述记录介质(3)的功率校准区中形成所述测试轨道区(23)。

9.根据权利要求1所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述跟踪装置适于生成三光点推挽跟踪误差信号，并且所述校准装置(9)适于分别为辅助光点(43，43′)确定辅助径向偏移和为主光点(39)确定主径向偏移，并用于根据所述辅助径向偏移和所述主径向偏移来确定所述径向偏移。

10.根据权利要求1所述的用于扫描的设备(1)，

其中所述位置控制装置(11)适于利用与预定校正因子相乘的所述径向偏移，所述校正因子特别是在1.0至1.7的范围内，优选在1.0至1.5的范围内。

11.根据权利要求1所述的用于扫描的设备(1)，

进一步包括

-存储装置(13)，其用于存储所述径向偏移，以及

-取回装置(15)，其用于检查是否为记录介质(3)存储了径向偏移并且用于取回所述径向偏移。

12.根据权利要求11所述的用于扫描的设备(1)，

进一步包括

-识别装置(17)，其用于生成介质标识符，该介质标识符用于识别所述记录介质(3)，其中所述

-存储装置(13)适于存储所述介质标识符和所述径向偏移，并且所述

-取回装置适于利用所述识别装置所生成的所述介质标识符进行检查。

13.根据权利要求11所述的用于扫描的设备(1)，其中所述

-存储装置(13)适于在所述记录介质(1)上存储所述径向偏移和识别所述设备(1)的设备标识符，并且所述

-取回装置(15)适于检查在所述记录介质(3)上的与所述设备对应的设备标识符。