[发明专利]测量装置有效
申请号: | 200680029774.0 | 申请日: | 2006-07-27 |
公开(公告)号: | CN101248368A | 公开(公告)日: | 2008-08-20 |
发明(设计)人: | 大石政裕;德田义克 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
主分类号: | G01S17/10 | 分类号: | G01S17/10;G01S7/484;G01S7/489 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 陈英俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种测量装置,在不进行光量调整的情况下,测定可覆盖较宽动态范围的光的所需时间差或至测定对象物的距离。将从发光部(1)射出的脉冲光分支为射向参照光路(F1)的基准光和照射到测定对象物并被反射回来的射向测定光路(F2)的测定光,由光接收部(9)接收这些光。在测定光路(F2)的途中,通过插入多重反射光纤(Mp1),测定光成为光量按一定比例依次衰减的多脉冲串。从该脉冲串中选择与参照光的接收电平大致相同的测定光。基于该选择的测定光和基准光,测量出测定光通过测定光路(F2)的时间和基准光通过参照光路(F1)的时间的所需时间差、或者至测定对象物的距离。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
【主权项】:
1、一种测量装置,其特征在于,包括:发光部,射出脉冲光;光分离器,将从上述发光部射出的脉冲光分支为基准光和测定光;参照光路,通过上述基准光;具有多脉冲生成部的部分,是为照射测定对象物而使上述测定光通过、而且使从上述测定对象物反射的测定光通过的测定光路的一部分,该多脉冲生成部基于上述测定光而生成生成时间及强度不同的多脉冲光;光接收部,接收来自上述参照光路的基准光和来自上述测定光路的上述多脉冲光;光耦合器,为了将来自上述参照光路的光和来自上述测定光路的光导向上述光接收部而进行耦合;脉冲选择部,从上述光接收部接收的上述多脉冲光中选择用于测量的脉冲光;以及测定量计算部,根据上述脉冲选择部选择的脉冲光与上述基准光的接收时间差、以及上述被选择的脉冲光的接收顺序,计算上述测定光通过正规的测定光路的时间与上述基准光通过上述参照光路的时间的所需时间差,或者计算至上述测定对象物的距离。
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