[发明专利]用于利用不相干的多色X射线源进行定量相衬成像和断层照相术的干涉仪有效
| 申请号： | 200680029434.8 | 申请日： | 2006-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN101257851A | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | C·戴维;F·普费弗;T·韦特坎普 | 申请（专利权）人： | 保罗·谢勒学院 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 卢江;刘春元 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种X射线干涉仪装置，其仅包括一个相栅(G1)和一个振幅光栅(G2)。这种干涉仪可以被用于利用标准X射线管获得相衬图像。另外，新型干涉仪可以使用由单独的子源的阵列组成的源。每个子源单独相干但是与其他子源互不相干。子源阵列可以通过将狭缝阵列、即附加的振幅光栅(GO)靠近源放置来产生。这种装置使得将这种类型的干涉仪与不提供空间或时间相干的源一起使用成为可能。因此，该装置可以和被置于检测器的较短距离处的较大源一起使用，从而导致较高的通量密度和因此较短的曝露时间。这对于要求在多个(数百个)视角下捕获物体图像的断层照相术特别重要。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 利用 不相干 多色 射线 进行 定量 成像 断层 照相术 干涉仪 | ||
【主权项】：
1.一种用于获得定量相衬图像的X射线、尤其是硬X射线干涉仪，其包括：a)X射线源(XS)，优选为标准多色X射线源，b)不同于布拉格晶体的衍射光学元件(G1)，优选为透射几何结构的衍射光学元件(G1)，该衍射光学元件(G1)在下文被称为射束分离器，以及c)具有在空间上调制过的检测灵敏度的位置灵敏检测器(D)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于保罗·谢勒学院，未经保罗·谢勒学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200680029434.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
