[发明专利]使用发光标记物的痕量结合高分辨度地跟踪工业过程材料无效
| 申请号： | 200680022904.8 | 申请日： | 2006-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN101208619A | 公开（公告）日： | 2008-06-25 |
| 发明（设计）人： | 马克·波恩;约翰·克拉福特;安通·劳尼柯尼斯;P·奥斯瓦斯;G.·F.·斯维格斯 | 申请（专利权）人： | 联邦科学和工业研究组织 |
| 主分类号： | G01V15/00 | 分类号： | G01V15/00;G01N21/64;G01N33/00;G05G3/00;G06K7/12 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 澳大利*** | 国省代码： | 澳大利亚;AU |
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| 摘要： | 一种标记工业过程材料(7)的方法，包括将痕量的发光标记物(1)有选择地结合到工业过程材料(7)之上和/或之中，该痕量在存在环境光时不足以光学可测、但是在原地就地的或者现场的工业过程材料之上和/或之中是足以无损地光学可测的，其中痕量的发光标记物(1)被用于为了材料控制、库存控制、存货控制、过程控制、物流控制、质量控制以及污染控制中的至少一个而跟踪、识别或者鉴定工业过程材料(7)。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 发光 标记 痕量 结合 分辨 跟踪 工业 过程 材料 | ||
【主权项】：
1.一种标记工业过程材料的方法，包括将痕量的发光标记物有选择地结合到工业过程材料之上和/或之中，该痕量在存在环境光时不足以光学可测、但是在原地就地的或者现场的工业过程材料之上和/或之中是足以无损地光学可测的，其中痕量的发光标记物被用于为了材料控制、库存控制、存货控制、过程控制、物流控制、质量控制以及污染控制中的至少一个而跟踪、识别或者鉴定工业过程材料。
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