[发明专利]溅射靶及光信息记录介质用薄膜有效

专利信息
申请号: 200680022785.6 申请日: 2006-03-24
公开(公告)号: CN101208451A 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: 高见英生;矢作政隆 申请(专利权)人: 日矿金属株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C04B35/547;C04B35/453;G11B7/26;G11B7/257;G11B7/254
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 王海川;樊卫民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种溅射靶,其中,以硫化锌与由氧化铟、氧化锌及其它三价阳性元素A构成的氧化物为主要成分,相对于全部构成成分的硫的比率为5至30重量%,XRD测定的立方晶系ZnS的(111)峰强度I1与六方晶系ZnS的(100)峰强度I2共存并且满足I1>I2。本发明的目的在于提供在靶制造时或者通过溅射形成膜时可以防止靶破裂的高强度溅射靶及其制造方法,以及得到最适合作为保护膜使用的光信息记录介质用薄膜及其制造方法。
搜索关键词: 溅射 信息 记录 介质 薄膜
【主权项】:
1.一种溅射靶,其中,以硫化锌与由氧化铟、氧化锌及其它三价阳性元素A构成的氧化物为主要成分,硫相对于全部构成成分的比率为5至30重量%,XRD测定的立方晶系ZnS的(111)峰强度I1与六方晶系ZnS的(100)峰强度I2共存并且满足I1>I2。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日矿金属株式会社,未经日矿金属株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680022785.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top