[发明专利]测距/测速仪和测距/测速方法有效

专利信息
申请号: 200680022270.6 申请日: 2006-04-20
公开(公告)号: CN101203729A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 上野达也 申请(专利权)人: 株式会社山武
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01S17/32
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 激光器驱动器(4)使半导体激光器(1)工作,以使至少包括振荡波长连续且单调增大的周期的第一振荡周期和至少包括振荡波长连续且单调减小的周期的第二振荡周期交替存在。光电二极管(2)将半导体激光器(1)发射的激光和来自测量目标(12)的返回光转换为电信号。计数装置(13)在第一振荡周期和第二振荡周期的每一个中,对包含在光电二极管(2)的输出信号中的干涉波形分量的个数进行计数。计算装置(9)根据在计数装置(13)对干涉波形分量的个数进行计数的周期的最短激光波长和最长激光波长以及计数装置(13)获得的计数结果,计算与测量目标(12)的距离和测量目标(12)的速度。这可以测量与正在运动的测量目标(12)的距离和测量目标(12)的速度。
搜索关键词: 测距 测速 方法
【主权项】:
1.一种测距/测速仪,其特征在于包括:半导体激光器,用于向测量目标发射激光;激光器驱动器,用于驱动半导体激光器工作,以使第一振荡周期和第二振荡周期交替地存在至少两个周期,所述第一振荡周期至少包括振荡波长连续且单调增大的周期,所述第二振荡周期至少包括振荡波长连续且单调减小的周期;光接收器,用于将所述半导体激光器发射的激光和来自所述测量目标的返回光转换为电信号;计数装置,用于在第一振荡周期和第二振荡周期中每一个周期的至少一部分中,对包含在所述光接收器的输出信号中的、由所述半导体激光器发射的激光和来自所述测量目标的返回光引起的干涉波形分量的个数进行计数;以及计算装置,用于根据在所述计数装置对干涉波形分量的个数进行计数的周期中的最短激光波长和最长激光波长以及由所述计数装置获得的计数结果,计算与所述测量目标的距离和所述测量目标的速度。
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