[发明专利]试样分析方法及试样分析装置无效
| 申请号： | 200680010678.1 | 申请日： | 2006-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN101151521A | 公开（公告）日： | 2008-03-26 |
| 发明（设计）人： | 山本典正;松尾直彦 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/78 | 分类号： | G01N21/78;G01N33/483;G01N21/27;G01N35/02 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁朝玉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种标本分析的新方法，该方法在对标本进行分析前可以检测出所有干扰物质，包括以下步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取光学信息的步骤；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取光学信息，并通过处理标本光学信息，对分析用试样进行分析的步骤，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据标本光学信息，设定与分析用试样相适应的分析条件。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种试样分析方法，具备三个步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取光学信息的步骤；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取光学信息，并通过处理标本光学信息，对分析用试样进行分析的步骤，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据标本光学信息，设定与分析用试样相适应的分析条件。
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