[发明专利]试样分析方法及试样分析装置无效
| 申请号: | 200680010678.1 | 申请日: | 2006-03-23 |
| 公开(公告)号: | CN101151521A | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
| 发明(设计)人: | 山本典正;松尾直彦 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78;G01N33/483;G01N21/27;G01N35/02 |
| 代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁朝玉 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 试样 分析 方法 装置 | ||
1.一种试样分析方法,具备三个步骤:
向标本照射光线、从所述标本中获取光学信息的步骤;
将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤;
以及向所述分析用试样照射光线,从分析用试样获取光学信息,并通过处理标本光学信息,对分析用试样进行分析的步骤,其中,在对分析用试样进行分析这一步骤中,根据标本光学信息,设定与分析用试样相适应的分析条件。
2.根据权利要求1所述试样分析方法,其特征在于:
在对所述分析用试样进行分析的步骤中,当从所述标本中获取的标本光学信息在第1范围之内时,设定第1分析条件,当从所述标本中获取的标本光学信息在第2范围之内时,设定第2分析条件;
向所述分析用试样照射光线,在复数的条件下获取试样光学信息;
在所获取的该试样光学信息中,对在所述第1分析条件和第2分析条件中设定的条件下获得的试样光学信息进行处理。
3.根据权利要求1所述试样分析方法,其特征在于:
在对所述分析用试样进行分析的步骤中,当从所述标本中获取的标本光学信息在第1范围之内时,设定第1分析条件,当从所述标本中获取的标本光学信息在第2范围之内时,设定第2分析条件;
向所述分析用试样照射光线,按照所述第1分析条件以及第2分析条件中设定的分析条件,获取试样光学信息,并对所述试样光学信息进行处理。
4.根据权利要求2或3所述试样分析方法,其特征在于:所述试样分析方法还包括以下步骤:
在获取所述试样光学信息步骤之前,根据所述标本光学信息,判断是否需要向所述分析用试样照射光线,获取试样光学信息。
5.一种试样分析装置,包括:
向标本照射光线,从该标本中获取标本光学信息的标本光学信息获取部分(40、240);
将所述标本与试剂混合,调制分析用试样的试样调制部分(50);以及通过向所述分析用试样照射光线、从分析用试样中获取试样光学信息、并处理这些试样光学信息,对分析用试样进行分析的信息获取分析部分;
所述信息获取分析部分,根据所述标本光学信息,设定与分析用试样相适应的分析条件。
6.根据权利要求5所述试样分析装置,其特征在于:所述信息获取分析部分包括:
试样光学信息获取部分(70、170、270),通过向分析用试样照射光线,在复数条件下,获取试样光学信息;以及
处理所述试样光学信息的分析部分(4),当从所述标本中获取的标本光学信息在第1范围之内时,设定第1分析条件,从在复数分析条件下从所述分析用试样获得的所述试样光学信息中,对在所述第1分析条件下获得的试样光学信息进行处理,并且,当从所述标本中获取的标本光学信息在第2范围之内时,设定第2分析条件,从在复数分析条件下从所述分析用试样获得的试样光学信息中,对在所述第2分析条件下获得的试样光学信息进行处理。
7.根据权利要求6所述试样分析装置,其特征在于:所述试样光学信息获取部分包含:
向分析用试样照射光线的光源(73);
将从分析用试样中获得的光转换为电子信号的光电转换元件(74);以及
对根据光电转换元件所得到的电子信号进行放大的放大器(75、76a、76b、176a)。
8.根据权利要求7所述试样分析装置,其特征在于:所述光源,能够射出复数波长的光。
9.根据权利要求7所述试样分析装置,其特征在于:所述放大器,包含具有第1放大率的第1放大器(76a),以及具有与第1放大率不同的第2放大率的第2放大器(76b)。
10.根据权利要求7所述试样分析装置,其特征在于:所述试样分析装置还包括,将所述放大器(176a)的放大率转变为第1放大率和第2放大率的放大率调整部分(176b)。
11.根据权利要求6至10中任何一项所述试样分析装置,其特征在于:所述试样分析装置还具备输出部分(4b),输出通过分析所述试样光学信息得出的分析结果;
其中,所述输出部分在输出从所述标本制备的所述分析用试样的分析结果的同时,还输出有关标本中存在的干扰物质的信息。
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